- 名称:CG真空高低温探针台
- 型号:CG
- 品牌:SEMISHARE
- 描述:CG高低温真空探针台是SEMISHARE多年来技术积累的创新成果,同时SEMISHARE也是国内率先自主研发推出的高低温...
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产品概要
CG高低温真空探针台是SEMISHARE多年来技术积累的创新成果,同时SEMISHARE也是国内率先自主研发推出的高低温真空探针台,CG高低温真空探针台能够实现样品在真空高低温环境下的精确电性、光强、波长、磁场等测试,其在超低温,超高真空,自动控制,激光模拟方面发挥着技术优势。
基本信息
产品型号
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CG-O-4
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工作环境
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高低温真空环境
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电力需求
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AC220V,50~60HZ
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操控方式
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手动探针台
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产品尺寸
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1100*1100*530mm
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设备重量
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约190KG
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应用方向
CG高低温真空探针台在高低温真空环境下的芯片测试、LD/LED/PD测试、光纤光谱特性测试、材料/器件的IV/CV特性测试、霍尔测试、电磁输运特性、高频特性测试等
技术特点
真空腔体
真空腔体采用外腔和屏蔽腔双腔体结构,为样品测试提供极限压力为10-4Pa的真空环境。低温测试时,避免空气中的水蒸气在样品上凝结成露水,从而避免漏电过大或探针无法接触电极而使测试失败。同时,由于真空绝热作用可是有效的提供制冷效率。高温测试时,避免了空气中的氧气氧化样品,从而避免样品电性误差、物理和机械上的形变。
探针臂XYZ调节机构
探针臂XYZ调节机构采用了自锁丝杠和交叉滚子导轨的结构,实现了探针定位精确为10um,探针漂移量优于±60nm/30mins的高精度点针。同时,采用三轴管状夹具和高屏蔽功能的三轴线缆,从而实现测试漏电精度达50FA。
探针热沉设计,定位更精准
SEMISHARE直流探针臂均配有两次热沉设计,第一次探针臂热沉在防辐射屏上、第二次探针通过陶瓷夹具热沉在样品台上。SEMISHARE的热沉设计能够有效的降低探针臂与测试器件的温差,提高了测试数据的精确性。
显微镜调节机构
显微镜调节机构通过调节支撑架的伸缩、高低以及显微镜自带调节座,可观测样品任意区域。20倍目镜和0.8倍-5倍的物镜变焦倍率,从而实现样品16X-100X的放大倍率。
制冷剂流量调节系统
制冷剂调节系统由杜瓦罐、压缩氮气压力控制阀及精密调节的针阀组成。控制低温时,通过调节压缩氮气压力控制阀来调节杜瓦罐中的压力,从而控制制冷剂流出的压力,继而调节制冷剂的流量;通过调节精密针阀进而精密控制制冷的流量,最终实现精准的低温控温功能。
制冷剂同轴回路
制冷剂同轴回路使制冷剂从中间进入管路进入样品台,流经屏蔽腔底板腔室,在回流至同轴回路外层回流管中,最后通过排气口排放到室外。制冷剂同轴回路使得制冷剂在排出的过程中加以利用,营造相对室温低很多的环境,抑制了进入样品台的制冷剂的提前消耗,从而提高制冷剂的制冷效率,较少制冷剂的消耗。
防震平台
防震系统采用空气弹簧式支撑架的防震平台。通过空气弹簧的形状、材质、弹簧室的容积及补助罐容积、阻尼孔径和水平调节阀等一系列减震设计,实现该系统垂直本征频率为1.5Hz,水平本征频率为1.2Hz的低频固有频率,承重达400Kg的承载能力。从而有效避免细微低频率频带的振动给测试带来的不利影响。
常见2种应用需要真空测试环境
极低温测试:
晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。同时由于真空绝热作用可以有效提高制冷效率。
高温无氧化测试:
当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。