为什么不可以只是使用频谱分析仪行业在成像雷达，移动通信，卫星通信，天气监测等应用中，对频谱纯信号的使用需求不断增长。这需要对信号生成设备进行快速，准确和可再现的表征。需要专用的相位噪声和幅度噪声测量系统，其测量本底噪声通常优于-180dBc/Hz,所需要的是用于测量晶体振荡器（VCXO，OCXO），SAW振荡器，合成器，锁相环和VCO（锁定或自由运行的高Q）的绝对相位噪声的仪器，以及放大器，混频器，分频器和乘法器。

      尽管可以使用频谱分析仪来产生一些特性，但是它对于区分幅度和相位噪声不是很有帮助。不但无法分离振幅和相位噪声，而且频谱分析仪的动态范围和底噪也不足。频谱分析仪中内部本地振荡器的相位噪声过高，并且它们缺乏分辨率带宽。因此，需要一个专门的系统，该系统先进行解调然后分别分析幅度和相位噪声。

测量信号源相位噪声1

总部位于瑞士的Anapico生产了APPH系列自动信号源分析仪，其将幅度调制和相位调制测量分开，可以独立测量非常低的噪声水平（低于-180dBc/Hz），并具有测量有源和无源附加噪声的能力组件。APPH分析仪可提供高达30GHz的测量能力，并具有完全集成的互相关系统，可响应最常见的相位，幅度和基带噪声测量问题，可提供高精度和重现性，快速测量速度，高动态范围以及低系统本底噪声，与此同时仍可为实验室和生产环境提供可承受的价格。

APPH系列的核心引擎将低噪声模拟接收器通道与先进的数字信号处理技术结合在一起，可提供快速且可重复的噪声测量。专有的基于FPGA的FFT交叉分析仪实时处理125MSa/s，可在几秒钟内完成数千个相关性和-170dBc/Hz以下的测量。由LAN或USB控制的APPH系列可以使用PC，笔记本电脑或平板电脑作为控制器，因此无需集成显示器，从而可以最大程度地降低产品成本，与此同时提高可靠性。

将系统封装在紧凑的无风扇机箱中，可以进一步消除杂散信号以及接地和电源线环路。另一个非常重要的考虑因素是精确校准。出厂前，每台仪器均根据可溯源的噪声标准进行了校准，以确保高精度，一致和可重复的结果。可供选择地，仪器可以提供校准标准品，以使用户可以随时进行现场性能验证。

精确测量专业能力
Anapico的APPH仪器支持的精确测量包括：使用内部或外部参考的相加或绝对相位噪声精确测量，幅度噪声精确测量以及其他用于评估RF信号源的自动测量。对于晶体振荡器，PLL合成器，时钟，锁相VCO，DRO等源，可以轻松进行SSB相位噪声，幅度噪声，AM噪声精确测量，加性或残留噪声表征以及高达30GHz的基带噪声精确测量。

图2所示的相位噪声数据是从低噪声100MHzOCXO参考中收集的数据。所显示的三个迹线分别是在第一次关联之后（绿色，在12秒的精确测量时间之后），10个关联（蓝色，在120s之后）和100个关联（红色，在20分钟之后）。十次相关或两分钟后，DUT的本底噪声达到-180dBc/Hz。对于这种超低噪声精确测量，使用外部参考源可以获得更快的结果。使用内部基准电压源运行的系统的灵敏度取决于DUT的载波频率和频率偏移范围。

精确测量信号源相位噪声2

精确测量信号源相位噪声3

图3：带有内部参考源（24秒后）的APPH的灵敏度。
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   使用经过验证的互相关精确测量程序和自校准例程，即使在变化的环境条件下也可以获得可重复且准确的精确测量结果。全自动的频率采集和自校准功能大大简化了仪器的使用和适用范围，最终得以实现了快速精确测量和便于操作。